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EQS――二次离子质谱
生产商:英国HIDEN ANALYTICAL LTD



相关产品:
EQS――二次离子质谱
IG20 离子枪
IFG200 FAB /离子枪
SIMS 工作站,带 EQS 离子质量、能量分析仪
IDP 三极过滤质谱 / 能量分析仪

艺术级的SIMS 探针,极易联结至现有的UHV表面科学研究反应室

· 静态 /动态SIMS
· 分析粗糙、一般用途的表面
· 整体的前端离子化仪,便于RGA和 SNMS
· 兼容的离子枪/ FAB 枪
· 合成物/污染物分析
· 深度压型
· 泄漏探测
· 与Hiden SIMS 工作站兼容

1000 系列EQS 规格:

· 质量数 913amu,对 Cs(CsI)3+ ,100cps/nA (在5keV时,用氧气离子束轰击碘化铯)

EQS 是差式泵式二次离子质谱,可分析来自固体样品的二次阴、阳离子和中子。

特点:
· 高灵敏度脉冲离子计算探测器,70个动态范围
· SIMS 成像,分辨率在微米以下
· 激光控制,深度压型能力增强
· 5°静电扇形分析仪, 扫描能量增量 0.05 eV/ 0.25eV FWHM.
· 所有能量范围内,离子射程的最小扰动,及恒定离子传输
· 差式泵3极滤过四极杆,质量数范围至2500 amu
· 灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计算探测器
· 联动装置以提供过压保护
· 经由RS232, RS485,Ethernet LAN,软件 MASsoft控制


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