瑞特恩技术
样品测试
技术咨询
应用培训
项目研发

       

Hiden 离子铣削探针(IMP) – 终点探测器

生产商:英国HIDEN ANALYTICAL LTD



相关产品:

XBS-MBE沉积速率监测/控制系统

IMP-离子束蚀刻终点测定仪
 
独有的专业检测终点仪器,用于离子蚀刻控制以及过程质量最优化监测。

· 终点分析
· 目标产物不纯组分检测
· 质量控制/ SPC
· 残余气体分析
· 泄漏监测

IMP(离子铣削探针)自带差压泵,坚固的二次离子质谱仪,适于分析离子铣削过程中的二次离子和中子。
特点:
· 高灵敏度的 SIMS / MS,带脉冲离子计算探测器
· 三级过滤四极杆,质量数300 为标配
· 差式泵多支管,经连接法兰,接到过程室
· 离子光学器件,带能量分析器和内置离子化仪
· 联动装置,以提供过压保护
· 数据系统,与过程分析工具整合
· 稳定性(超过24h,小于峰高变化的 ±0.5%)
· 经 RS232, RS485 or Ethernet LAN, 软件MASsoft控制
· 程控DDE, 平行数字式I / O, RS232通讯


Copyright ©2002~2003 Rakon Science & Technology Ltd